产品简介
GX--J2000型激光粒度仪是一种新型的粒度测试仪器，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。它具有准确可靠、测试速度快、测试范围宽、重复性和真实性好、操作简便等突出特点。
应用领域
建材、化工、冶金、能源、食品、电子、地质、军工、航空航天、机械、高校、实验室，研究机构等。
